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- [发明专利]有机半导体元件的分析方法-CN201880017551.5有效
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川上祥子;N.小松;濑尾哲史
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株式会社半导体能源研究所
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2018-03-26
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2022-07-15
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G01N27/62
- 提供一种发光元件的分析方法。本发明是在一对电极间包括具有一个或多个层的有机半导体层的有机半导体元件的分析方法。通过使用如下步骤对有机半导体元件进行分析:剥离有机半导体元件的一个电极的步骤(S2);通过第一质谱分析法对露出的有机半导体层的叠层及Z或混合状态进行分析的步骤(S3);使用溶剂使有机半导体层的各层所包含的有机化合物中的至少一个或多个溶解而制造溶液的步骤(S4);通过液相色谱法分离溶液所包含的有机化合物(S5),通过第二质谱分析法检测所分离的有机化合物的质量电荷比的步骤(S6);对通过第一质谱分析法检测出的质量电荷比(D1)与通过第二质谱分析法检测出的质量电荷比
- 有机半导体元件分析方法
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